| 系統識別號 |
U0026-3110202001434200 |
| 論文名稱(中文) |
前瞻顯示器非晶態銦鎵鋅氧薄膜電晶體之可靠度與物理機制
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| 論文名稱(英文) |
Reliability and Physical Mechanisms of Amorphous Indium Gallium Zinc Oxide Thin-Film Transistors for Advanced Display |
| 校院名稱 |
成功大學 |
| 系所名稱(中) |
光電科學與工程學系 |
| 系所名稱(英) |
Department of Photonics |
| 學年度 |
109 |
| 學期 |
1 |
| 出版年 |
109 |
| 研究生(中文) |
陳宏誌 |
| 研究生(英文) |
Hong-Chih Chen |
| 學號 |
L78051106 |
| 學位類別 |
博士 |
| 語文別 |
英文 |
| 論文頁數 |
179頁 |
| 口試委員 |
指導教授-賴韋志
共同指導教授-張鼎張
口試委員-張守進
召集委員-葉文冠
口試委員-黃建璋
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| 中文關鍵字 |
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| 學科別分類 |
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| 論文目次 |
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| 參考文獻 |
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| 論文全文使用權限 |
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