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系統識別號 U0026-2807202015543600
論文名稱(中文) 基於K-近鄰分類法及梯度提升決策樹模型之印刷電路板銅膜厚度渦電流量測
論文名稱(英文) PCB Copper Thickness Measurement Using Eddy-Current Inspection Method That Based on K-Nearest Neighbor Classification and Gradient Boosting Decision Tree
校院名稱 成功大學
系所名稱(中) 電機工程學系
系所名稱(英) Department of Electrical Engineering
學年度 108
學期 2
出版年 109
研究生(中文) 李耘多
研究生(英文) Yun-Duo Lee
學號 N26071584
學位類別 碩士
語文別 中文
論文頁數 67頁
口試委員 指導教授-戴政祺
口試委員-張簡嘉壬
口試委員-黃世杰
口試委員-楊弘吉
口試委員-李宗勳
中文關鍵字
學科別分類
論文目次
參考文獻
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