| 系統識別號 |
U0026-2508201917051400 |
| 論文名稱(中文) |
閘極偏壓與照光應力對氧化鋅錫薄膜電晶體能隙內能態密度變化與電容-電壓及轉換特性曲線偏移量之關聯 |
| 論文名稱(英文) |
Correlation between Subgap Density of States and Shift in Capacitance-Voltage and Transfer Curves of Zinc Tin Oxide Thin Film Transistor under Gate Bias and Illumination Stress |
| 校院名稱 |
成功大學 |
| 系所名稱(中) |
材料科學及工程學系 |
| 系所名稱(英) |
Department of Materials Science and Engineering |
| 學年度 |
107 |
| 學期 |
2 |
| 出版年 |
108 |
| 研究生(中文) |
吳廷豐 |
| 研究生(英文) |
Ting-Feng Wu |
| 學號 |
n56064143 |
| 學位類別 |
碩士 |
| 語文別 |
中文 |
| 論文頁數 |
119頁 |
| 口試委員 |
指導教授-陳貞夙
口試委員-吳季珍
口試委員-許文東
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| 中文關鍵字 |
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| 學科別分類 |
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| 論文目次 |
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| 參考文獻 |
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| 論文全文使用權限 |
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