| 系統識別號 |
U0026-2507201821302400 |
| 論文名稱(中文) |
非接觸式微米級印刷電路板銅箔厚度量測系統及多重品質特性之最佳感測線圈設計 |
| 論文名稱(英文) |
Development of A Contactless Micron-Sized PCB Copper Foil Thickness Measuring System and Design of Optimal Sensing Coil with Multiple Quality Characteristics |
| 校院名稱 |
成功大學 |
| 系所名稱(中) |
電機工程學系 |
| 系所名稱(英) |
Department of Electrical Engineering |
| 學年度 |
106 |
| 學期 |
2 |
| 出版年 |
107 |
| 研究生(中文) |
蔡侑侖 |
| 研究生(英文) |
YU-LUN TSAI |
| 學號 |
N26050245 |
| 學位類別 |
碩士 |
| 語文別 |
中文 |
| 論文頁數 |
67頁 |
| 口試委員 |
指導教授-戴政祺
口試委員-楊弘吉
口試委員-陳柏宏
口試委員-林育勳
口試委員-陳建富
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| 中文關鍵字 |
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| 學科別分類 |
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| 論文目次 |
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| 參考文獻 |
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| 論文全文使用權限 |
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