| 系統識別號 |
U0026-2308202018595200 |
| 論文名稱(中文) |
聚焦離子束對奈米接觸電阻量測影響之研究 |
| 論文名稱(英文) |
Influence of focus ion beam on nano contact resistance measuremen |
| 校院名稱 |
成功大學 |
| 系所名稱(中) |
工程科學系碩士在職專班 |
| 系所名稱(英) |
Department of Engineering Science (on the job class) |
| 學年度 |
108 |
| 學期 |
2 |
| 出版年 |
109 |
| 研究生(中文) |
李原瑋 |
| 研究生(英文) |
Yuan-Wei Li |
| 學號 |
N97071298 |
| 學位類別 |
碩士 |
| 語文別 |
中文 |
| 論文頁數 |
33頁 |
| 口試委員 |
指導教授-趙隆山
口試委員-黃登淵
口試委員-周榮華
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| 中文關鍵字 |
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| 學科別分類 |
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| 論文目次 |
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| 參考文獻 |
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| 論文全文使用權限 |
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