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系統識別號 U0026-2201202018021800
論文名稱(中文) 以修復型診斷架構應用於區分具測試等效性之定值錯誤
論文名稱(英文) Distinguishing Test-Equivalent Stuck-at Faults Based on Repair-for-Diagnosis Architecture
校院名稱 成功大學
系所名稱(中) 電機工程學系
系所名稱(英) Department of Electrical Engineering
學年度 108
學期 1
出版年 109
研究生(中文) 張順仲
研究生(英文) Shun-Chung Chang
學號 N26041505
學位類別 碩士
語文別 英文
論文頁數 59頁
口試委員 指導教授-李昆忠
口試委員-李建模
口試委員-張順志
口試委員-黃稚存
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論文目次
參考文獻
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