| 系統識別號 |
U0026-2008201817172200 |
| 論文名稱(中文) |
二氧化鉿薄膜之電阻轉換特性分析 |
| 論文名稱(英文) |
Study on Resistive Switching Characteristics of Nanofabricated Hafnium Oxide-Based RRAM Devices |
| 校院名稱 |
成功大學 |
| 系所名稱(中) |
奈米積體電路工程碩士學位學程 |
| 系所名稱(英) |
MS Degree Program on Nano-Integrated Circuit Engineering |
| 學年度 |
106 |
| 學期 |
2 |
| 出版年 |
107 |
| 研究生(中文) |
杜健暐 |
| 研究生(英文) |
Jian-Wei Du |
| 學號 |
Q76054047 |
| 學位類別 |
碩士 |
| 語文別 |
英文 |
| 論文頁數 |
76頁 |
| 口試委員 |
指導教授-盧達生
口試委員-朱聖緣
口試委員-江孟學
口試委員-林萬里
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| 中文關鍵字 |
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| 學科別分類 |
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| 論文目次 |
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| 參考文獻 |
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| 論文全文使用權限 |
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