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系統識別號 U0026-1908201023150900
論文名稱(中文) TFT-LCD光學檢測機台之設計整合研究
論文名稱(英文) Study on the Design Process of Automatic Optical Inspection Machine for Flat Panel Display
校院名稱 成功大學
系所名稱(中) 機械工程學系專班
系所名稱(英) Department of Mechanical Engineering (on the job class)
學年度 98
學期 2
出版年 99
研究生(中文) 莊啟信
研究生(英文) Chi-Shin Chuang
學號 N1795112
學位類別 碩士
語文別 中文
論文頁數 69頁
口試委員 指導教授-許來興
口試委員-黃聖杰
口試委員-詹魁元
中文關鍵字 設計模式  設計程序  設計方法  光學檢測 
英文關鍵字 TFT-LCD  Pahl & Beitz 
學科別分類
中文摘要 本研究主要針對TFT-LCD 光學檢測機台之設計流程進行探討,目的是將繁雜的機台設計制式化。本研究套用了Pahl & Beitz 的設計模式理論,從確認設計任務開始,到規範建立、構想與草案產生、定案之後完成零件表及產生文件。
光學檢測機台設計從剛開始藉由業務與客戶的接觸,訂定出機台的所有規格,由此規格開始規劃機台所需外型,樣式與機台動作。將模組劃分完成之後即開始進行組立圖設計與干涉檢查分析,若有設計錯誤時將進入設計變更流程,待檢查與模擬結果無誤之後隨即零件發包製作,加工完成的零件經由品管檢驗核可後即開始組裝並測試機台,於交期日前將機台交與客戶。
現今大多數從事機台設計人員,對於機台設計似乎較無整體規劃,常常盲目的從事設計而忽略了機台設計的意義,也忘了與其他部門搭配的重要性,此結果常導致設計變更次數增多而使機台成本增加,或是同一機台卻有不同設計之情形發生。本研究論文期望能整理出光學檢測設計的規範,針對研發設計的流程進行研究與分析,達到降低產品開發成本與產品設計變更次數、縮短專案研發時程的目的,以提升研發的效率。
英文摘要 This research mainly aims to focus on the design process of a TFT-LCD optical inspection machine. The goal is to organize the design steps of a highly complex system. Employing Pahl & Beitz systematic design process, this study started from clarification the design task, establishment of the required specifications, generation and evaluation of the design conception, and determination of the definitive design and its detailed design. The whole design project was then completed and produced the design documents.
The design process of an optical inspection machine starts from discussing with customer. Based on the required functions, its specification including the type of machine, working space and movement procedure is then determined. The whole system can be subdivided into several modules or sub-systems and their appropriate primitive layouts are then generated. If any mistake or improper point were found, the alternative design concept or layout is then evaluated. The iterative method is proceeded to a definitive design is obtained.
The objective of this thesis is to establish a systematic process of designing an optical inspection machine. By employing Pahl and Beitz design method and collaborating with customer, manufacturing people, and other engineering departments, the design changes and time duration will be reduced. The goal of a design work, such as an optical inspection machine, can be effectively achieved.
論文目次 摘要
Abstract
目錄
圖目錄
表目錄
第一章 緒論1
1.1 前言1
1.2 研究動機2
1.3 研究目的2
1.4 研究架構3
第二章 文獻探討4
2.1 光學檢測系統4
2.1.1 光學檢測原理介紹4
2.1.2 TFT-LCD 液晶顯示器製程簡介5
2.1.3 檢測機台之主要功能13
2.1.4 自動光學檢測之方法14
2.1.5 瑕疵及暗點檢測16
2.2 設計方法論21
2.2.1 French 之設計模式21
2.2.2 Archer 之設計模式22
2.2.3 Pahl & Beitz (P&B)之設計模式24
2.2.4 設計標準之設計模式27
2.2.5 其他較重要的設計模式32
2.2.6 同步研發工程36
2.3 系統工程之查證39
2.3.1 查證39
第三章 檢測機台之設計41
3.1 機台設計流程概述41
3.2 設備規格需求42
3.3 機台設計流程42
3.4 檢測機台設計實例44
第四章 結構分析案例探討58
4.1 結構分析概述58
4.2 分析案例一:玻璃變形量分析(1)58
4.2.1 案例一之設計結構概述58
4.2.2 分析要點59
4.2.3 分析結果60
4.3 分析案例二:玻璃變形量分析(2)62
4.3.1 案例二之設計結構概述62
4.3.2 分析要點62
4.3.3 分析結果63
第五章 結論與未來展望64
5.1 結論64
5.2 問題討論65
5.3 未來展望65
第六章 參考文獻67
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