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系統識別號 U0026-0812200915132845
論文名稱(中文) 品管手法在改善量測校正作業效率上之應用研究:以台灣某半導體製造廠商為例
論文名稱(英文) Improving the Calibration Efficiency at T Company Using Quality Control Tools
校院名稱 成功大學
系所名稱(中) 高階管理碩士在職專班(EMBA)
系所名稱(英) Executive Master of Business Administration (EMBA)
學年度 97
學期 2
出版年 98
研究生(中文) 蔡超杰
研究生(英文) Chau-Chieh Tsai
電子信箱 cjtsai0001@yahoo.com.tw
學號 r0793419
學位類別 碩士
語文別 中文
論文頁數 59頁
口試委員 指導教授-潘浙楠
口試委員-陳俊男
口試委員-黃國平
中文關鍵字 精實生產  六標準差  量測校正作業  精實六標準差 
英文關鍵字 Lean Six Sigma  Six Sigma  Metrology calibration  Lean 
學科別分類
中文摘要 隨著科技日新月異,半導體生產製造的技術也不斷的精進,生產過程中量測的精確度與穩定度亦顯得日形重要,而量測的精確度與穩定度則有賴於校正作業系統的有效監控。校正作業本身除了需要人員、操作時間還會因量測機台的使用而影響製造的效率與產能。
本研究首先回顧結合「精實生產」(Lean Production) 與「六標準差」(Six Sigma)的管理方法,以建立起整體品質的觀念,接著介紹量測變異系統分析(GRR)的原理,以說明量測校正作業系統在生產製造流程中所扮演的角色與重要性。本研究的主題係探討如何藉由六標準差DMAIC (Define, Measure, Analysis, Improve, Control) 的改善步驟與其中的品管手法之應用,發展出最佳化的校正作業流程,達到提升量測校正作業系統效率之目的。我们選定專案計劃中的關鍵績效指標進行現況分析再提出改善對策,並藉由驗證以確保得到最佳化的解決方案。此一應用不僅可作為其他半導體/電子產業在改進量測校正作業效率上之參考,對企業經營的效率提升有相當大的幫助。
至於研究個案之實證部分,我們首先選定專案計劃並在執行DMAIC各階段的過程中導入適當的品管手法,藉由標竿學習找出影響效率的關鍵因素,再導入自動化檢測流程,最後我們檢討專案計劃的執行成效,確認此個案的檢測流程已達最佳化。改善後之有形效益可達每年約新台幣三千六百萬元,無形中亦同時提升整體測量資料的品質與客戶滿意度,以達到永續經營的目標。
英文摘要 With the advancement of modern science and technology, the precision and stability of measurement systems become more and more important, more over the calibration efficiency in measurement systems at semiconductor industries has direct impact on production throughput.
The research framework starts with reviewing “The Lean Production” and “Six Sigma” literature, then the Measurement System Analysis (MSA) and Gauge Repeatability and Reproducibility (GR&R) study will be introduced. This research focuses on “how to establish an effective measurement system”. In order to improve the calibration efficiency, various quality control tools will be applied in conjunction with Six Sigma’s DMAIC (Define, Measure, Analyze, Improve and Control) methodology. This approach can be served as a useful reference for improving the calibration efficiency in semiconductor and electronic industries.
In the case study, the key factors which have significant impact on the calibration efficiency of this project have been found and verified. The annual cost savings are NT$ 36,000,000 approximately, meanwhile the quality of measurement data and customers satisfaction are enhanced. Hopefully, the global sustainability of semiconductor industries can be achieved through this research.
論文目次 摘要.................................................................................................................................. I
Abstract ............................................................................................................................II
目錄................................................................................................................................ III
表目錄............................................................................................................................ IV
圖目錄............................................................................................................................. V
第1章 緒論 1
第一節 研究背景 1
第二節 研究動機 4
第三節 研究範圍與目的 5
1.3.1. 研究範圍 5
1.3.2. 研究目的 5
第四節 研究流程 6
第五節 研究範圍與限制 7
第2章 文獻探討 8
第一節 精實生產之概念理論 8
第二節 精實生產實施流程 10
第三節 六標準差之介紹 11
第四節 六標準差的實施方式 15
第五節 量測系統分析與量測校正系統概述 19
第六節 量測校正系統與生產製造關係之說明 25
第3章 研究方法 27
第一節 研究的架構與流程 27
第二節 研究的實施步驟 28
第4章 研究個案之實證分析 32
第一節 個案背景介紹 32
第二節 實施的方法與步驟 32
第5章 結論與建議 54
第一節 研究結論 54
第二節 研究限制 55
第三節 未來研究的方向 56
参考文獻 57
參考文獻 一、 中文部分:
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二、 英文部分:

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論文全文使用權限
  • 同意授權校內瀏覽/列印電子全文服務,於2010-07-07起公開。
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