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系統識別號 U0026-0407201813500100
論文名稱(中文) 逆摻雜製程對高壓金氧半電晶體特性與可靠度影響之研究
論文名稱(英文) Effects of Counter-Doping Process on the Characteristics and Reliability of High Voltage MOS Transistors
校院名稱 成功大學
系所名稱(中) 微電子工程研究所
系所名稱(英) Institute of Microelectronics
學年度 106
學期 2
出版年 107
研究生(中文) 詹朝景
研究生(英文) Chao-Ching Chan
學號 Q16051102
學位類別 碩士
語文別 英文
論文頁數 74頁
口試委員 指導教授-陳志方
口試委員-張守進
口試委員-高國興
口試委員-王俊凱
口試委員-陳世志
中文關鍵字
學科別分類
論文目次
參考文獻
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