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系統識別號 U0026-0307202016264800
論文名稱(中文) 薄膜晶向影響氧化亞銅電阻式記憶體特性之研究
論文名稱(英文) A Study of Its Influence of Phase Orientation on The Characteristics of Cuprous Oxide Resistive Random Access Memory
校院名稱 成功大學
系所名稱(中) 微電子工程研究所
系所名稱(英) Institute of Microelectronics
學年度 108
學期 2
出版年 108
研究生(中文) 林威廷
研究生(英文) Wei-Ting Lin
學號 Q16071259
學位類別 碩士
語文別 中文
論文頁數 42頁
口試委員 指導教授-彭洞清
口試委員-張連璧
口試委員-高宗達
口試委員-林大欽
中文關鍵字
學科別分類
論文目次
參考文獻
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